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服務(wù)能力

武漢金測實(shí)驗(yàn)室擁有密閉性強(qiáng)的低氣壓試驗(yàn)箱，可根據(jù)客戶需求，將箱內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間及數(shù)據(jù)穩(wěn)定。

適用范圍

可為電子電器、儀器儀表、汽車電子、軌道交通、航空航天等產(chǎn)品的元器件、結(jié)構(gòu)件、組件以及整機(jī)等開展溫濕度環(huán)境試驗(yàn)。

相關(guān)資質(zhì)

CNAS/CMA

設(shè)備能力

溫度范圍：-40~150℃；
壓力范圍：海拔10～100kpa；
使用環(huán)境周溫：+5～+30℃之間；
內(nèi)箱尺寸：1000*1000*1000mm

測試標(biāo)準(zhǔn)

武漢金測實(shí)驗(yàn)室可執(zhí)行多項(xiàng)低氣壓試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)方法，現(xiàn)列舉一些常用的相關(guān)試驗(yàn)方法如下：
GB/T 2421.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南》
GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試程 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)M:低氣壓》
GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)》
GB/T 2423.27-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)》
GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》
GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法105  低氣壓試驗(yàn)》
GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓(高度)試驗(yàn) 》
MIL-STD-883-1:2019 《微電路的環(huán)境試驗(yàn) 低氣壓》
ASTM D6653 (2021) 《低氣壓試驗(yàn)》

試驗(yàn)照片

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  試驗(yàn)設(shè)備照片

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  試驗(yàn)過程照片

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  試驗(yàn)曲線