電子元器件的環(huán)境與可靠性試驗(yàn)
可靠性試驗(yàn)是為了確定已通過可靠性鑒定試驗(yàn)而轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否達(dá)到規(guī)定可靠性要求,驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性是否隨批量生產(chǎn)期間工藝,工裝,工作流程,零部件質(zhì)量等因素的變化而降低。只有經(jīng)過這些,產(chǎn)品性能才是可以信任的,產(chǎn)品的質(zhì)量才是過硬
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質(zhì)量為本· 精益求精
新增檢測(cè)項(xiàng)目