高低溫測試旨在評估產(chǎn)品在極端溫度條件（包括高溫和低溫）下儲存、運輸及使用的適應性和可靠性。該測試的嚴苛程度由所設定的高溫或低溫的具體溫度值以及產(chǎn)品暴露在這些極端溫度下的持續(xù)時間所決定。由于大多數(shù)產(chǎn)品都需要在特定的溫度范圍內(nèi)進行存儲或工作運行，因此，這種測試顯得尤為重要。特別是在那些溫度波動較大，時而高溫時而低溫的環(huán)境中，產(chǎn)品的適應性和穩(wěn)定性更是需要通過高低溫測試來驗證。

高低溫循環(huán)測試

一般來講的話都是天的倍數(shù)，常見的就是72H，96H。要求不一樣,時間不一樣，有更少或是更高的。

高低溫環(huán)境測試標準

GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-2部分:試驗 試驗B:干熱

IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：低溫

應用范圍

電子、元器件、電路板、通訊、LED、液晶屏、儀器儀表、電容、車輛、醫(yī)藥、塑膠、金屬、化學、建材等行業(yè)產(chǎn)品。

高低溫試驗箱主要能夠展開以下項目試驗

高溫試驗

目的：用來查核試驗樣品在高溫條件下儲存或運用的適應性。應用于比如像熱帶天氣或煉鋼廠等高溫環(huán)境下作業(yè)的儀器、設備等。

試驗設備：高低溫（濕熱）試驗箱

試驗條件：一般選定恒定的溫度應力和保持時間

優(yōu)選常用溫度：

200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等；

優(yōu)選常用的試驗時刻有：2h，16h，72h，96h等。

低溫試驗

目的：用來查核實驗樣品在低溫條件下儲存或運用的適應性。常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的挑選試驗等。

試驗設備：高低溫（濕熱）試驗箱

試驗條件：一般選定穩(wěn)定的溫度和試驗時刻

優(yōu)選常用的溫度有：

-65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，+5℃等；

優(yōu)選常用的試驗時刻有：2h，16h，72h，96h等。

快速變溫試驗

目的：快速變溫是具有規(guī)則溫度改變率的溫度改變，往往模仿晝夜溫差較大的區(qū)域環(huán)境，也可用于壽數(shù)試驗，評價元器件或產(chǎn)品的外觀、機械功能和電氣功能。

測試條件：

1）溫度改變規(guī)模的高低溫值；

2）試樣在高低溫下的保留時刻；

3）從低溫到高溫或在高溫文低溫之間的溫度改變率；

4）條件測試周期數(shù)。

溫度沖擊試驗

目的：用于評價產(chǎn)品對環(huán)境溫度快速改變的適應性。熱沖擊試驗的意圖與溫度循環(huán)試驗的意圖根本相同，但熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗的條件嚴苛得多。

測試設備：兩箱冷熱沖擊試驗箱和三箱冷熱沖擊試驗箱

測試條件：

1)溫度改變規(guī)模的高低溫值；

2)試樣在高低溫下的保留時刻；

3)從低溫到高溫或從高溫到低溫改變時刻；

4)條件測試周期數(shù)。

穩(wěn)定溫濕度試驗

目的：查核產(chǎn)品在濕熱條件下運用和儲存的適應性，觀察試驗樣品在穩(wěn)定溫度、無凝露、規(guī)則時刻高濕環(huán)境下的影響，以加快方法評價實驗樣品耐濕熱劣化的效應。

試驗設備：恒溫恒濕試驗箱

試驗條件：試驗溫度；試驗濕度；試驗時刻

優(yōu)選常用的溫度/濕度有：

40℃，85%；40℃，93%；85℃，85%等；

優(yōu)選常用的試驗時刻有：48h，96h等。

溫濕度循環(huán)試驗

目的：適用于確定試驗樣品在溫度循環(huán)改變、外表發(fā)生凝露的濕熱條件下運用和儲存的適應性。

試驗設備：高低溫（濕熱）試驗箱

試驗條件：選定溫度、濕度、循環(huán)次數(shù)、溫度改變率、持續(xù)時刻