高低溫試驗又稱高低溫循環(huán)測試，是環(huán)境可靠性測試中的一項，電路板需要進行高溫、低溫循環(huán)的試驗，以檢測和篩選相應的可靠性能力。基本上所有的產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲保存，或者工作運行。

某些環(huán)境中，溫度會有時高，有時低，這種不斷變化的溫度環(huán)境會影響產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量和使用壽命，加速產(chǎn)品的老化，縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長時間處于這種交替變化大的高溫和低溫環(huán)境中，需要有足夠的能力來抵抗高溫和低溫循環(huán)。

一、電路板高低溫試驗怎么做？

電路板進行85度高溫連續(xù)測試2個小時，然后在-40℃的地方持續(xù)測試兩個小時，這樣的測試程序要連續(xù)完成20個回合。進行類似的試驗，只要在高低溫試驗箱的控制系統(tǒng)上輸入相應的測試程序，即可自行智能化運行20個回合，甚至更多。

二、電路板高低溫測試標準：

GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-2部分:試驗 試驗B:干熱

IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：低溫

三、應用范圍：

電子、元器件、電路板、通訊、LED、液晶屏、儀器儀表、電容、車輛、醫(yī)藥、塑膠、金屬、化學、建材等行業(yè)產(chǎn)品。

高低溫試驗箱主要能夠展開以下項目試驗

四、高溫試驗

意圖：用來查核試驗樣品在高溫條件下儲存或運用的適應性。應用于比如像熱帶天氣或煉鋼廠等高溫環(huán)境下作業(yè)的儀器、設備等。

試驗設備：高低溫（濕熱）試驗箱。

試驗條件：一般選定一穩(wěn)定的溫度應力和堅持時刻。

優(yōu)選常用溫度：200℃，175℃，155℃，125℃，100℃，85℃，70℃，55℃等；

優(yōu)選常用的試驗時刻有：2h，16h，72h，96h等。

五、低溫試驗

意圖：用來查核實驗樣品在低溫條件下儲存或運用的適應性。常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗、元器件的挑選試驗等。

試驗設備：高低溫（濕熱）試驗箱

試驗條件：一般選定一穩(wěn)定的溫度和試驗時刻。

優(yōu)選常用的溫度有：- 65℃，-55℃，-40℃，-25℃，-10℃，-5℃，+5℃等；

優(yōu)選常用的試驗時刻有：2h，16h，72h，96h等。

六、武漢金測實驗室試驗設備

內(nèi)箱尺寸（D*W*H）：100*100*100cm

箱體內(nèi)容積：1000L

溫度范圍：-70℃～150℃

濕度范圍（百分比）：25～95RH

升溫速率：-70℃～150℃：3.5℃/min（30kg鋁錠）； 

降溫速率：+150℃～-70℃：1.5℃/min（30kg鋁錠）；

限值 大電熱負載：(60℃，百分比95RH)，2000W