光電子元器件要做哪些可靠性測(cè)試？其實(shí)很多行業(yè)的產(chǎn)品都需要做可靠性檢測(cè)，而每個(gè)行業(yè)的檢測(cè)需求也不同，那么光電子元器件大都數(shù)情況下，都有哪些可靠性檢測(cè)項(xiàng)目需要進(jìn)行測(cè)試？讓我們一起來(lái)了解一下。

      一、光電子元器件物理特性測(cè)試項(xiàng)目：
      1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。
      2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。
      3、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。
      4、剪切力：確定光電子器件的芯片和無(wú)源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。
      5、可焊性：確定需要焊的光電子器件引線(直徑小于30175mm的引線，以及截面積相當(dāng)?shù)谋馄揭€)的可焊性。
　　6、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和感應(yīng)性。
      7、引線鍵合強(qiáng)度：確定光電子器件采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊等技術(shù)的引線鍵合強(qiáng)度。
 
      二、光電子元器件常見的機(jī)械試驗(yàn)項(xiàng)目：
　　1、機(jī)械沖擊：確定光電子器件是否能適用在需經(jīng)受中等嚴(yán)酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運(yùn)輸或現(xiàn)場(chǎng)使用過(guò)程中突然受力或劇烈振動(dòng)所產(chǎn)生的。
　　2、變頻振動(dòng)：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動(dòng)對(duì)光電子器件各部件的影響。
　　3、熱沖擊：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時(shí)的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。
　　4、插拔耐久性：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。
　　5、存儲(chǔ)試驗(yàn)：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運(yùn)輸和儲(chǔ)存。
　　6、溫度循環(huán)：確定光電子器件承受終點(diǎn)高溫度和終點(diǎn)低溫度的能力，以及終點(diǎn)高溫度和終點(diǎn)低溫度交替變化對(duì)光電子器件的影響。
　　7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時(shí)承受規(guī)定的溫度和濕度。
　　8、高溫壽命：確定光電子器件高溫加速老化失效機(jī)理和工作壽命。
 
      三、光電子元器件加速老化試驗(yàn)：
　　在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動(dòng)電流進(jìn)行加速老化。依據(jù)試驗(yàn)的結(jié)果來(lái)判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對(duì)光電子器件工作條件進(jìn)行調(diào)整和對(duì)可靠性進(jìn)行計(jì)算。
　　1、高溫加速老化：加速老化過(guò)程中的基本環(huán)境應(yīng)力式高溫。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中，應(yīng)定期監(jiān)測(cè)選定的參數(shù)，直到退化超過(guò)壽命終止為止。
　　2、恒溫試驗(yàn)：恒溫試驗(yàn)與高溫運(yùn)行試驗(yàn)類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗(yàn)樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。
　　3、變溫試驗(yàn)：變化溫度的高溫加速老化試驗(yàn)是定期按順序逐步升高溫度(例如，60℃、85℃和100℃)。
　　4、溫度循環(huán)：除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)需要對(duì)光電子器件進(jìn)行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對(duì)管電子器件進(jìn)行加速老化。
　　溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長(zhǎng)期機(jī)械穩(wěn)定性的附加說(shuō)明。
 
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