加速試驗在今天的產(chǎn)品可靠性測試中已經(jīng)成為重要而應(yīng)用廣泛的手段之一，今天我們就一起來學(xué)習(xí)下，如果對你有幫助，請分享給身邊的朋友。
 
1、加速試驗概念
加速試驗是指在保證不改變產(chǎn)品失效機理的前提下，通過強化試驗條件，使受試產(chǎn)品加速失效，以便在較短時間內(nèi)獲得必要信息，來評估產(chǎn)品在正常條件下的可靠性或壽命指標(biāo)。通過加速試驗，可迅速查明產(chǎn)品的失效原因，快速評定產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)。
 
2、加速試驗的目的與特點
進(jìn)行加速試驗的目的可概括如下：
（1）為了適應(yīng)日益激烈的競爭環(huán)境；
（2）在盡可能短的時間內(nèi)將產(chǎn)品投入市場；
（3）滿足用戶預(yù)期的需要。
加速試驗是一種在給定的試驗時間內(nèi)獲得比在正常條件下（可能獲得的信息）更多的信息的方法。它是通過采用比設(shè)備在正常使用中所經(jīng)受的環(huán)境更為嚴(yán)酷的試驗環(huán)境來實現(xiàn)這一點的。由于使用更高的應(yīng)力，在進(jìn)行加速試驗時必須注意不能引入在正常使用中不會發(fā)生的故障模式。在加速試驗中要單獨或者綜合使用加速因子，主要包括：
更高頻率的功率循環(huán)；更高的振動水平；高濕度；更嚴(yán)酷的溫度循環(huán)；更高的溫度。
 
3、加速試驗分類
加速試驗主要分為兩類，每一類都有明確的目的：
（1）加速壽命試驗--估計壽命；
（2）加速應(yīng)力試驗--確定（或證實）和糾正薄弱環(huán)節(jié)。
這兩類加速試驗之間的區(qū)別盡管細(xì)微，但卻很重要，它們的區(qū)別主要表現(xiàn)在下述幾個方面：作為試驗的基礎(chǔ)的基本假設(shè)、構(gòu)建試驗時所用的模型、所用的試驗設(shè)備和場所、試驗的實施方法、分析和解釋試驗數(shù)據(jù)的方法。
 
表1對這兩類主要的加速試驗進(jìn)行了比較：

 
4、加速試驗的產(chǎn)品層次
要明確進(jìn)行加速試驗的產(chǎn)品層次（級別）是設(shè)備級還是零部件級，這一點很重要。某些加速方法只適用于零件級的試驗，而有的方法只能用于較高級別的總成（設(shè)備），只有少數(shù)方法同時適用于零件級和總成（設(shè)備）級。對零件級非常合適的基本假設(shè)和建模方法在對較高級別的設(shè)備進(jìn)行試驗時可能完全不成立，反之亦然。
 
表2列出了在兩個主要的級別（設(shè)備級和零部件級）上進(jìn)行試驗的信息。

 
5、先進(jìn)的加速試驗
過去，大多數(shù)加速試驗都是使用單一應(yīng)力和在定應(yīng)力譜進(jìn)行的。包括周期固定的周期性應(yīng)力（如溫度在規(guī)定的上下限之間循環(huán)，溫度的上限和下限以及溫度的變化率是恒定的）。但是，在加速試驗中，應(yīng)力譜不必是恒定的，也可以使用多種應(yīng)力的組合。常見的非恒定應(yīng)力譜和組合應(yīng)力包括：
步進(jìn)應(yīng)力試驗；漸進(jìn)應(yīng)力試驗； 高加速壽命試驗（HALT）（設(shè)備級）；高加速應(yīng)力篩選（HASS）（設(shè)備級）；高加速溫度和濕度應(yīng)力試驗（HAST）（零件級）。
高加速試驗系統(tǒng)性地使用大大超過產(chǎn)品使用中預(yù)期水平的環(huán)境激勵，因此需要詳細(xì)理解試驗結(jié)果。高加速試驗用于確認(rèn)相關(guān)故障，并用來確保產(chǎn)品對高于所要求的強度有足夠的裕度以便能經(jīng)受正常的使用環(huán)境。高加速試驗的目的是大大減少暴露缺陷所需要的時間。該方法可用于研制試驗，也可用于篩選。

HALT（高加速壽命試驗）是一個研制工具，而HASS（高加速應(yīng)力篩選）是一個篩選工具。它們常?；ハ嗦?lián)合使用。這是兩種相對較新的方法，與傳統(tǒng)的加速試驗方法不同。HAL與THASS的具體目標(biāo)是改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計，將制造偏差和環(huán)境效應(yīng)對產(chǎn)品性能和可靠性的影響減至最小。通常定量的壽命或可靠性預(yù)計與高加速試驗沒有聯(lián)系。
步進(jìn)應(yīng)力譜試驗。使用步進(jìn)應(yīng)力譜，試驗樣本首先按事先規(guī)定的時間以某個給定的應(yīng)力水平試驗一段，然后在高一點的應(yīng)力水平下再試驗一段時間。不斷增加應(yīng)力水平繼續(xù)上面的過程，直到某個試驗樣本失效，或者試驗進(jìn)行到最大應(yīng)力水平時終止。這種方法能更快速地使產(chǎn)品失效以便分析。但是，用這種方法很難正確建立加速模型，因此很難定量地預(yù)計產(chǎn)品在正常使用條件下的壽命。
每一步中應(yīng)該增加的應(yīng)力量值與許多變量有關(guān)。但是，允許在設(shè)計中進(jìn)行這樣的試驗的一個普遍的法則是：假設(shè)產(chǎn)品沒有缺陷，如果最終能以適當(dāng)?shù)脑Ａ砍鲱A(yù)期的使用環(huán)境中的應(yīng)力，就能保證總體中的每一個體都能經(jīng)受住使用環(huán)境和篩選環(huán)境。（從而提高產(chǎn)品的壽命或可靠性）漸進(jìn)應(yīng)力譜試驗。漸進(jìn)應(yīng)力譜或者"梯度試驗"是另一種常見的方法，試驗中應(yīng)力水平隨時間持續(xù)增加。其優(yōu)點和缺點與步進(jìn)試驗相同，但有另外一個困難，就是很難精確地控制應(yīng)力增加的速率。

HALT（高加速壽命試驗）。HALT一詞是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。HALT有時指應(yīng)力增益壽命試驗（STRIFE），是一種研制試驗，是步進(jìn)應(yīng)力試驗的一種強化形式。它一般用來確認(rèn)設(shè)計的薄弱環(huán)節(jié)和制造過程中存在的問題，以及用來增加設(shè)計強度的富裕量，而不用來進(jìn)行產(chǎn)品壽命或可靠性的定量預(yù)計。

HASS（高加速應(yīng)力篩選）試驗。HASS是加速環(huán)境應(yīng)力篩選的一種形式。它代表了產(chǎn)品所經(jīng)歷的最嚴(yán)酷的環(huán)境，但通常持續(xù)很有限的一段時間。HASS是為達(dá)到"技術(shù)的根本極限"而設(shè)計的。此時應(yīng)力的微小增加就會導(dǎo)致失效數(shù)的大量增加。這種根本極限的一個例子是塑料的軟化點。

HAST（高加速溫度和濕度應(yīng)力試驗）。隨著近來電子技術(shù)的高速發(fā)展，幾年前剛剛出現(xiàn)的的加速試驗可能不再適應(yīng)當(dāng)今的技術(shù)了，尤其是那些專門針對微電子產(chǎn)品的加速試驗。例如，由于塑料集成電路包的發(fā)展，現(xiàn)在用傳統(tǒng)的、普遍被接受的85℃/85%RH的溫度/濕度試驗需要花上千小時才能檢測出新式集成電路的失效。在大多數(shù)情況下，試驗樣本在整個試驗中不發(fā)生任何失效。不發(fā)生失效的試驗是說明不了什么問題的。而產(chǎn)品在使用中必定會偶爾失效。因此，需要進(jìn)一步改進(jìn)加速試驗。HSAT就是為代替老的溫度/濕度試驗而開發(fā)的方法。
 
6、加速試驗中應(yīng)當(dāng)注意的問題
加速試驗?zāi)Ｐ褪菍Ξa(chǎn)品在正常應(yīng)力水平下以及一個或多個加速應(yīng)力水平下的關(guān)鍵因素進(jìn)行試驗而導(dǎo)出的。在使用加速環(huán)境時一定要極其注意，以便識別和正確確認(rèn)在正常使用中將發(fā)生的失效和一般不會發(fā)生的失效。因為加速環(huán)境一般都使用遠(yuǎn)高于現(xiàn)場使用時所預(yù)期的應(yīng)力水平，加速應(yīng)力會導(dǎo)致在實際使用中不可能出現(xiàn)的錯誤的失效機理。例如，將受試產(chǎn)品的溫度升高到超過材料性能改變的溫度點或者休眠激活門限溫度時，就會導(dǎo)致在正常使用中不會發(fā)生的失效的發(fā)生。在這種情況下，解決這種失效只會增加產(chǎn)品的費用，可靠性卻不會有絲毫的提高。理解真正的失效機理來消除失效的根本原因才是極為重要的。