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高低溫試驗箱對電子元器件測試的作用

作者: 發(fā)布日期:2023-09-12

高低溫試驗箱用于電子元器件、自動化零部件、通訊元件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)、國防工業(yè)、航飛系統(tǒng)、軍工、BGA、PCB基板扳手、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷磁性和高分子材料的物理變化,測試其材料承受高低溫的性能以及產(chǎn)品在熱脹冷縮中的化學(xué)變化或物理損傷,可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精細(xì)IC到重型機械元件,將是各領(lǐng)域產(chǎn)品測試必不可少的試驗箱。
 
高低溫試驗箱可以給電子元器件做哪些檢測?
電子元器件是整機的基礎(chǔ),在使用過程中可能由于其固有缺憾或制造過程控制不當(dāng)而形成與時間或應(yīng)力有關(guān)的故障。為保證整批元器件的可靠性,滿足整機的要求,需要排除在使用條件下可能出現(xiàn)初始故障的元器件。
1、高溫儲存
電子元器件的失效大多是由于機體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的,這些變化與溫度密切相關(guān)。溫度升高后,化學(xué)反應(yīng)加速,加速失效過程。使有缺憾的元件能及時暴露出來,加以淘汰。
高溫篩分廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件中,可清掉表面污染、接觸不好和氧化層缺憾等失效機理。一般在zui高結(jié)溫下儲存24~168小時。高溫篩分簡單易行,費用不貴,可以對很多部件進行。高溫儲存后,可以穩(wěn)定元器件的參數(shù)性能,減少使用中的參數(shù)漂移。
2、電力測試
在篩選中,在熱電應(yīng)力的綜合作用下,可以很好地暴露出元器件本體和表面的許多潛在缺憾,這是可靠性篩選的重要項目。各種電子元器件通常在額定功率條件下精煉幾小時到168小時。有些產(chǎn)品,如集成電路,不能隨便改變條件,而是可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫,達到高應(yīng)力狀態(tài)。電力精煉需要專門的測試設(shè)備高低溫試驗箱,成本高,篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常是幾個小時,軍q用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時,航飛級部件可以選擇240小時或更長的周期。
3、溫度循環(huán)
電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力作用下,熱匹配性能差的元件很容易失效。溫度循環(huán)篩選利用十分高溫和十分低溫之間的熱脹冷縮應(yīng)力,可剔除具有熱性能缺憾的產(chǎn)品。常用的元器件篩選條件為-55~125℃,5~10個循環(huán)。
電力精煉需要專門的測試設(shè)備,成本高,篩選時間不宜過長。民用產(chǎn)品通常是幾個小時,軍q用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時,航 空 級部件可以選擇240小時或更長的周期。
4、篩選元件的必要性
電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計。在產(chǎn)品的制造過程中,由于人為因素或原材料、工藝條件、設(shè)備條件的波動,zui終的成品并不能全部達到預(yù)期的固有可靠性。在每批成品中,總有一些產(chǎn)品存在一些潛在的缺憾和弱點,其特點是在一定的應(yīng)力條件下早期失效。早期失效部件的平均壽命比正常產(chǎn)品短得多。
電子設(shè)備能否可靠工作的依據(jù)是電子元器件能否可靠工作。如果早期故障部件與整機設(shè)備一起安裝,將大大增加整機設(shè)備早期故障的故障率,其可靠性達不到要求,也將付出巨大的代價修理。


高低溫試驗箱.jpg

 
因此,無論是軍工產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品,篩選都是保證可靠性的重要手段。高低溫試驗箱都是電子元器件環(huán)境可靠性試驗的zui佳選擇。


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